產(chǎn)品目錄 | Product catalog

技術(shù)文章 | Technical articles

串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置的校準(zhǔn)方法
點(diǎn)擊次數(shù):23 更新時(shí)間:2025-05-27 打印本頁面 返回
   串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置主要由變頻電源、勵磁變壓器、高壓電抗器和電容分壓器組成。在試驗(yàn)過程中,先通過調(diào)節(jié)變頻電源的輸出頻率,使回路中的電抗器的電感和試品電容發(fā)生串聯(lián)諧振。當(dāng)回路產(chǎn)生諧振時(shí),此時(shí)試品上的電壓是勵磁變高壓端輸出電壓的Q倍,Q為系統(tǒng)品質(zhì)因素,一般為幾十到一百以上。這意味著變頻電源較小的輸出電壓就可在試品上產(chǎn)生較高的試驗(yàn)電壓,大大減小了試驗(yàn)裝置的體積和重量,同時(shí)也降低了對電源容量的要求。
 
  該試驗(yàn)方法具有諸多優(yōu)點(diǎn)。一是適用范圍廣,無論是大容量的電力變壓器,還是長距離的電力電纜等不同類型和規(guī)格的容性設(shè)備,都能通過調(diào)整相關(guān)參數(shù)實(shí)現(xiàn)有效的耐壓試驗(yàn)。二是安全可靠性高,系統(tǒng)配備了過電壓保護(hù)、過電流保護(hù)、放電保護(hù)、擊穿跳閘保護(hù)、過熱保護(hù)等多種保護(hù)措施,能夠有效防止試驗(yàn)過程中可能出現(xiàn)的異常情況對設(shè)備和人員造成損害。例如,若在耐壓試驗(yàn)過程中發(fā)生閃絡(luò)、擊穿,由于失去了諧振條件,高電壓立即消失,從而使電弧立即熄滅,避免事故進(jìn)一步擴(kuò)大。
 
  此外,串聯(lián)諧振裝置對高次諧波分量回路阻抗很大,所以試品上的電壓波形好,能夠更準(zhǔn)確地反映設(shè)備的絕緣性能。同時(shí),在試驗(yàn)結(jié)束后,恢復(fù)電壓建立過程較長,很容易在再次達(dá)到閃絡(luò)電壓之前控制電源跳閘,避免重復(fù)擊穿,且恢復(fù)電壓并不產(chǎn)生任何過沖所引起的過電壓,進(jìn)一步保障了試驗(yàn)的安全性和準(zhǔn)確性。
 
  串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置的校準(zhǔn):
 
  1.標(biāo)準(zhǔn)器具對比法:
 
  -選用精度等級高于被校準(zhǔn)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)電壓表、電流表、頻率表等測量器具。
 
  -在相同的試驗(yàn)條件下,同時(shí)使用被校準(zhǔn)設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)器具對試驗(yàn)中的電壓、電流、頻率等參數(shù)進(jìn)行測量,對比兩者的測量結(jié)果,計(jì)算出被校準(zhǔn)設(shè)備的誤差。
 
  -根據(jù)誤差情況,對被校準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行調(diào)整或修正,使其測量精度滿足要求。
 
  2.替代法:
 
  -用已知性能良好的同類型設(shè)備或標(biāo)準(zhǔn)諧振元件,替代被校準(zhǔn)設(shè)備中的相應(yīng)部分,進(jìn)行試驗(yàn)。
 
  -比較替代前后的試驗(yàn)結(jié)果,若試驗(yàn)結(jié)果有明顯差異,說明被替代部分可能存在問題,需要對被校準(zhǔn)設(shè)備進(jìn)行進(jìn)一步的檢查和校準(zhǔn)。 
串聯(lián)諧振耐壓
點(diǎn)擊這里給我發(fā)消息
點(diǎn)擊這里給我發(fā)消息
點(diǎn)擊這里給我發(fā)消息
點(diǎn)擊這里給我發(fā)消息